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一种表面裂纹检测的双激励平面传感器

摘要

一种表面裂纹检测的双激励平面传感器,包括,激励线圈、磁芯、支撑架和检测探头,缠绕于磁芯上的载流线圈通过支撑架正交布设于同一平面上,形成中心点为空的十字形激励探头,由此正交两轴激励处在同一平面上,消除了激励高度不一致带来的误差,提高了检测灵敏度;检测探头放置在激励线圈组成的激励探头的中心下方,同时检测XY两个方向上的磁场畸变幅值,获取待测件表面横向和纵向的磁场畸变信息,可以一次性扫查实现裂纹的检出,提高了检测效率;所述双激励平面传感器整体尺寸仅30mm左右,适用于多种构件形状和空间位置,可在更多的工程场合应用,满足高灵敏度、高分辨率的检测需求。

著录项

  • 公开/公告号CN214585085U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国特种设备检测研究院;

    申请/专利号CN202120781568.7

  • 发明设计人 胡斌;闫梁;万本例;

    申请日2021-04-14

  • 分类号G01N27/83(20060101);

  • 代理机构11368 北京世誉鑫诚专利代理有限公司;

  • 代理人李世端

  • 地址 100029 北京市朝阳区和平街西苑2号楼

  • 入库时间 2022-08-23 01:27:44

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