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公开/公告号CN214010987U
专利类型实用新型
公开/公告日2021-08-20
原文格式PDF
申请/专利权人 齐鲁工业大学;武汉光驰教育科技股份有限公司;
申请/专利号CN202022864433.5
发明设计人 任向河;闫冰;周广兴;刘和平;李小红;程勇;佀云鹰;敖开发;
申请日2020-12-03
分类号G01N13/02(20060101);
代理机构42244 武汉维盾知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人彭永念
地址 250353 山东省济南市西部新城大学科技园
入库时间 2022-08-22 23:49:55
机译: 长度和角度光学测量系统-还可基于莫尔条纹或干涉带测量光学常数
机译: 具有用于非相干辐射源的可变光学器件的干涉测量系统以及调整该干涉测量系统的方法
机译: 带有光学纤维的干涉测量系统和包括此类干涉测量系统的惯性制导或导航系统
机译:使用弯曲光学元件控制基于干涉仪的测量系统的重影反射
机译:使用混合光纤自由空间光学系统和选择性波长干涉仪的光学基板厚度测量系统
机译:基于可变液体透镜和点衍射干涉仪组合系统的光学压力传感器
机译:光学形式测量系统使用线扫描干涉仪和测量干涉仪进行旋转物体级的耗尽补偿
机译:基于同步加速器的活生物细胞红外微分析在细胞生物学和生物技术中的液体细胞测量系统的实现
机译:基于平面矩形薄膜感测的高灵敏度立方体干涉纤维 - 光学液体
机译:EUV光学测试中横向剪切干涉测量系统误差分析