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CSP性能测试装置

摘要

本实用新型提供了一种CSP性能测试装置,包括:固定于积分球表面、用于接收CSP出光的收光窗口,及可移动的设置于收光件上方、用于为CSP通电的探针,其中,收光窗口中包括:柱状收光件,固定设置于积分球表面,柱状收光件内部中空且上端面内部沿中心方向设置有一凸台,凸台下方内壁设置有螺孔;透明支撑件,部分卡持于凸台下方、部分位于凸台外且与柱状收光件的上表面高度齐平;窗口板,置于透明支撑件下方,尺寸与透明支撑件下方的空间尺寸匹配;窗口板中包括一透光孔,且透光孔的面积较CSP出光侧表面的面积小;及螺丝,内部中空且通过柱状收光件内壁的螺孔将窗口板和支撑件固定卡持于凸台下方。解决现有整体带膜测试中出现的边缘效应的技术问题,提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN213957633U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江西省晶能半导体有限公司;

    申请/专利号CN202022862272.6

  • 发明设计人 王召灿;何玉建;吴明春;

    申请日2020-12-03

  • 分类号G01S19/23(20100101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 330096 江西省南昌市高新开发区艾溪湖北路699号

  • 入库时间 2022-08-22 23:40:28

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