首页> 中国专利> 现场射线检测曝光条件校验装置

现场射线检测曝光条件校验装置

摘要

本实用新型公开了一种现场射线检测曝光条件校验装置,包括检测箱,检测箱前表面设置有密封门,检测箱内顶面安装有配有黑度比较片的观片灯,检测箱内部下端固定安装有安装板,安装板上表面两侧中心对称分别安装有显影液储存筒和定影液储存筒,安装板上表面中心转动安装有传动轴,传动轴底端传动连接有切换电机,传动轴顶面固定安装有连接板,连接板远离传动轴的一端底面转动安装有电动升降杆,电动升降杆底面固定安装有放置架,放置架底面安装有若干底片固定夹,电动升降杆顶端传动安装有转动电机。本实用新型结构设计合理,满足了现场射线检测的要求,同时提升了底片的校验效率以及准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN213957831U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖北科规检测有限公司;

    申请/专利号CN202023031130.1

  • 发明设计人 满方;姚园;朱克辉;

    申请日2020-12-16

  • 分类号G03D13/00(20060101);

  • 代理机构44367 深圳市创富知识产权代理有限公司;

  • 代理人肖琪

  • 地址 441000 湖北省襄阳市高新区佳海工业园A3栋

  • 入库时间 2022-08-22 23:40:26

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号