首页> 中国专利> 一种针对指纹识别自学习算法的攻击测试装置

一种针对指纹识别自学习算法的攻击测试装置

摘要

本实用新型公开了一种针对指纹识别自学习算法的攻击测试装置,涉及指纹识别的安全性能测试技术领域,解决了现有测试装置无法对指纹自学习算法的安全性能进行测试。包括依次连接的指纹传感器、指纹调试板以及放置台体与网罩结构,指纹传感器设置在放置台体上,放置台体设置在网罩结构内。本实用新型能够快速对比出多种指纹识别自学习算法在安全性能上的优劣,本装置结构简洁、使用便捷,可操作性强。

著录项

  • 公开/公告号CN213751121U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳贝特莱电子科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202023282509.X

  • 发明设计人 叶燕华;

    申请日2020-12-29

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06F21/55(20130101);

  • 代理机构44722 深圳砾智知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人翁治林

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区高新中二道深圳国际软件园4栋506

  • 入库时间 2022-08-22 23:02:10

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号