SMD封装高速AOI测试设备的AOI检测系统

摘要

本实用新型涉及的是一种SMD封装高速AOI测试设备的AOI检测系统，与SMD封装高速AOI测试设备配套使用，适用于表面贴装器件（SMD）封装带高速光学质量检测（AOI)。包括机箱部分、AOI检测部分和工控机；所述的机箱部分设置有机箱，工控机安装在机箱内，机箱上部装有工作台；所述的AOI检测部分安装在工作台中部，AOI检测部分包括AOI检测装置一、AOI检测装置二和SMD封装带传动装置，所述的AOI检测装置一安装在AOI检测装置二前侧，检测SMD封装带；所述的SMD封装带传动装置安装在AOI检测装置一和AOI检测装置二下部的工作台上，传动SMD封装带。