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一种大口径平面反射镜多入射角度反射率测量装置

摘要

本实用新型属光学薄膜元件反射率测量领域,尤其涉及一种大口径平面反射镜多入射角度反射率测量装置,包括多角度支架(1);所述多角度支架(1)呈半球形结构;所述多角度支架(1)底部平面中心区域开有半球面凹槽(2);在所述多角度支架(1)内对称设有用于定位测量光纤的多组限位孔(3);所述限位孔(3)的中心轴线均相交于多角度支架(1)底部平面重心;在所述限位孔(3)内分别固定装有入射光纤(5)和出射光纤(6)。本实用新型简化了测量装置,且支架尺寸小巧,移动便捷;将测量的入射光纤和接收光纤分别插入对称的限位孔内,用锁紧螺丝固定光纤便可移动支架直接测量大口径平面反射镜表面任意位置不同入射角度的反射率。

著录项

  • 公开/公告号CN213274790U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-05-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈阳仪表科学研究院有限公司;

    申请/专利号CN202022449008.X

  • 申请日2020-10-29

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构21107 沈阳亚泰专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭元艺

  • 地址 110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号

  • 入库时间 2022-08-22 21:41:19

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