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一种提高精度的磁光克尔测量调节装置

摘要

一种提高精度的磁光克尔测量调节装置,包括第一底座,所述第一底座上设有X轴滑轨,所述X轴滑轨上安装有第一电动滑台,所述第一电动滑台连接有Y轴滑轨,所述Y轴滑轨上安装有第二电动滑台,所述第二电动滑台上安装有气缸,所述气缸连接固定块,圆柱形旋转杆横穿过固定块,圆柱形旋转杆一端的凸台连接有固定座;所述底座的一侧还设有水准仪,所述水准仪包括升缩杆和薄膜,所述薄膜上设有圆孔。能够准确调节光学器件位置,提高磁光克尔测量的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN213240470U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京东方晨景科技有限公司;

    申请/专利号CN202021180224.2

  • 发明设计人 刘卫滨;

    申请日2020-06-23

  • 分类号G01R33/032(20060101);

  • 代理机构32286 南京常青藤知识产权代理有限公司;

  • 代理人毛洪梅

  • 地址 100000 北京市海淀区中关村东路66号世纪科贸大厦B座2203室

  • 入库时间 2022-08-22 21:35:31

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