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一种多FPGA平台的软件测试系统

摘要

本实用新型公开了一种多FPGA平台的软件测试系统,涉及测试技术领域,该软件测试系统包括上位机,第一FPGA芯片及其相连的网口和第一SRIO接口形成的FPGA转接平台,依次连接的第二SRIO接口、DDR3存储器以及第二FPGA芯片形成的FPGA核心处理平台,上位机连接FPGA转接平台的网口,FPGA转接平台的第一SRIO接口连接FPGA核心处理平台的第二SRIO接口,该整个系统以FPGA芯片为核心,再辅以千兆网口、DDR3和SRIO接口等各类外设,避免了核心处理平台因外设不足而引起测试不便的问题,使得整个系统更加灵活、适应性更强,且可以提高数据传输的高速性和稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN212569756U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡国芯微电子系统有限公司;

    申请/专利号CN202021452597.0

  • 发明设计人 李付庭;盛沨;魏一平;

    申请日2020-07-21

  • 分类号G06F11/36(20060101);G06F11/30(20060101);

  • 代理机构32228 无锡华源专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人过顾佳;聂启新

  • 地址 214072 江苏省无锡市建筑西路777号蠡园开发区无锡国家集成电路设计中心A7幢

  • 入库时间 2022-08-22 19:47:56

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