首页> 中国专利> 用于电磁场近场探测的复合探头

用于电磁场近场探测的复合探头

摘要

本实用新型一种用于电磁场近场探测的复合探头,所述复合探头由基板、磁场探头、电场探头和两个SMA接头组成;基板采用包括顶部铜箔层、底部铜箔层和至少两个中间铜箔层的印制电路板;顶部和底部铜箔层上制作有馈线结构;馈线结构与相应中间铜箔层构成背覆地共面波导;磁场探头和电场探头分别设置在基板的正面和背面;磁场探头、电场探头的末端与相应背覆地共面波导电气连接;背覆地共面波导前端设置有空气桥结构;背覆地共面波导的后端与SMA接头电气连接。本实用新型的有益技术效果是:提出了一种用于电磁场近场探测的复合探头,该复合探头能同步探测电场和磁场,探头能够明显的抑制谐振,结构紧凑,尺寸较小,便于操作、携带。

著录项

  • 公开/公告号CN212568960U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN202021331417.3

  • 发明设计人 郑伟;肖珂;李寅生;

    申请日2020-07-09

  • 分类号G01R29/08(20060101);G01R29/12(20060101);G01R33/02(20060101);

  • 代理机构50235 重庆乾乙律师事务所;

  • 代理人侯春乐

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2022-08-22 19:47:37

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号