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一种激光辅助识别赫尔-肖氏薄板中颗粒分布的装置

摘要

本实用新型公开了一种激光辅助识别赫尔‑肖氏薄板中颗粒分布的装置,包括设置在密封摄影棚内的赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架,该玻片架上放置有赫尔‑肖氏盛颗粒玻片,该玻片的上下方分别设置有激光灯和CCD相机,激光灯可射出光束直径为30mm的红光点状激光平行光源,CCD相机的镜头冲向赫尔‑肖氏盛颗粒玻片,并连接至数据处理系统;赫尔‑肖氏盛颗粒玻片中的两玻片之间的距离可在0.5~3.0mm之间调节;数据处理系统包括安装在一台计算机中的Matlab和AlgolabPtVector软件,数据处理系统接收、记录和处理来自于CCD相机的数据,通过所识别图片上呈现的不同明暗程度来获得颗粒的薄厚程度,确定颗粒运动轨迹与侵蚀区域,用来观察赫尔‑肖氏薄板中后源侵蚀的发展过程。

著录项

  • 公开/公告号CN212254980U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN202020208100.4

  • 申请日2020-02-25

  • 分类号G01N15/00(20060101);G01N15/02(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人李丽萍

  • 地址 300350 天津市津南区海河教育园雅观路135号天津大学北洋园校区

  • 入库时间 2022-08-22 18:49:54

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