首页> 中国专利> 一种基于多探头球面近场天线测试系统结构

一种基于多探头球面近场天线测试系统结构

摘要

一种基于多探头球面近场天线测试系统结构,包括:环状分布探头阵列、被测天线、用于放置被测天线的多轴天线测试转台;所述环状分布探头阵列包括多个探头阵列形成的圆环,且所述多个探头均指向圆环的圆心,所述圆环垂直于水平面;所述圆环的形状包括具有开口的圆环,所述圆环包括多个探头非均匀分布的第一探头区域,所述第一探头区域设于所述开口的临近处;通过在传统的环状分布探头阵列的底部将探头非等间距排布,对天线测试的极端区域有更良好的测试效果。

著录项

  • 公开/公告号CN211603353U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海益麦电磁技术有限公司;

    申请/专利号CN201921806419.0

  • 发明设计人 范勇;张佳莺;陈宇钦;

    申请日2019-10-25

  • 分类号G01R29/10(20060101);G01R1/04(20060101);

  • 代理机构31280 上海申浩律师事务所;

  • 代理人房平木

  • 地址 200433 上海市杨浦区国泰路11号1层展示厅A262室

  • 入库时间 2022-08-22 16:59:02

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号