首页> 中国专利> 一种点测机不下片针压测试治具机构

一种点测机不下片针压测试治具机构

摘要

本实用新型涉及LED芯片检测设备技术领域,具体涉及到一种点测机不下片针压测试治具机构。包括电子秤、滑块、导轨、磁力底座;所述磁力底座上固定设置有导轨底座;所述滑块与所述导轨底座通过导轨活动连接;所述滑块固定设置在机架上;所述导轨底座上固定设置有固定座;所述滑块上设置有挡块;所述固定座上设置有丝杆,所述丝杆通过旋转顶住所述挡块,从而带动滑块上下移动。本实用新型中将磁力底座固定到测试机平台,左右扭动设置在丝杆上端的平台升降旋钮螺母,丝杆顶住设置在滑块上的挡块,从而使滑块在导轨上带动放置在秤底座上的电子秤上下移动,实现自由升降测试针压,可以在任何时候都能对探针进行测试,不需要下片,提升品质和效率。

著录项

  • 公开/公告号CN211318666U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 吉安市木林森半导体材料有限公司;

    申请/专利号CN201921897524.X

  • 发明设计人 陈江聪;曹锋;管洪勇;

    申请日2019-11-05

  • 分类号

  • 代理机构上海微策知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人谭慧

  • 地址 343000 江西省吉安市井冈山经济技术开发区南塘路288号

  • 入库时间 2022-08-22 16:08:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号