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应用于光检检测系统的自检装置及光检检测系统

摘要

本实用新型公开了一种应用于光检检测系统的自检装置及光检检测系统。所述自检装置包括光学检测通道和与光学检测通道配合的挡光机构,所述挡光机构包括挡光板,所述挡光板能够在驱动机构的驱使下到达或离开检测工位,在所述检测工位处所述挡光板能完全遮盖光学检测通道,所述光学检测通道还与光学检测机构配合设置,所述挡光板上分布有检测孔,所述检测孔上设置有可更换的遮光件,所述遮光件上分布有微型通孔。本实用新型提供的自检装置结构简单,只需要更换挡光板上的遮光件即可实现对精度的改变,该遮光件上有微孔,微孔大小根据客户要求的检测精度来设计。

著录项

  • 公开/公告号CN211235579U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州斯莱克精密设备股份有限公司;

    申请/专利号CN201922445513.4

  • 发明设计人 安旭;朱云华;汪洋;

    申请日2019-12-30

  • 分类号G01N21/88(20060101);G01N21/01(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构32256 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王锋

  • 地址 215000 江苏省苏州市吴中区胥口镇石胥路621号

  • 入库时间 2022-08-22 15:54:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    授权

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