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一种用于测量冻土冻胀变形的光学测量装置

摘要

本实用新型公开了一种用于测量冻土冻胀变形的光学测量装置,包括摄像机、相机安装底座、固定组件、电子靶标、至少两个复位靶标以及计算机,其中,固定组件固定在相机安装底座上,固定组件与摄像机可拆卸连接,电子靶标插在冻土层中,摄像机可拍摄所述电子靶标的图像,所述复位靶标穿过所述冻土层并插在非冻土区域中,所述复位靶标位于所述摄像机的一侧,多个所述复位靶标为所述摄像机的拍摄参考点。本实用新型利用电子靶标,将冻土的冻胀变形转换为电子靶标的位移,并通过复位靶标作为参考点,使摄像机可在同一位置拍摄电子靶标的位移状态,实现对冻土冻胀变形的光学测量,结构简单,而且可满足长期监测的需求,保证测量精度,而且成本较低。

著录项

  • 公开/公告号CN211205199U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 智仿神州科技(武汉)有限公司;

    申请/专利号CN201922454003.3

  • 发明设计人 吴学兵;张文明;

    申请日2019-12-30

  • 分类号

  • 代理机构武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人易贤卫

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室227号

  • 入库时间 2022-08-22 15:49:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    授权

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