公开/公告号CN211205199U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-08-07
原文格式PDF
申请/专利权人 智仿神州科技(武汉)有限公司;
申请/专利号CN201922454003.3
申请日2019-12-30
分类号
代理机构武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人易贤卫
地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋(原3)1单元1层01室227号
入库时间 2022-08-22 15:49:03
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-07
授权
授权
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机译: 一种用于沿着至少一根光纤测量变形的装置,用于测量变形的光纤的使用以及测量变形的方法
机译: 光学测量装置,用于生成测量程序的用于光学测量的测量程序和对象的光学测量的检查方法