公开/公告号CN211205053U
专利类型实用新型
公开/公告日2020-08-07
原文格式PDF
申请/专利权人 九江精密测试技术研究所;
申请/专利号CN201921436149.9
申请日2019-09-01
分类号
代理机构惠州华茂联合知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人赵莹
地址 332000 江西省九江市浔阳区九瑞大道33号
入库时间 2022-08-22 15:49:01
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-07
授权
授权
机译: 集成的电路测试卡,其探针的电触点结构得到改进,其中包括用于通过连接臂连接弯曲部分和弯曲部分的悬臂式探针,以及通过后端部分将弯曲的部分和可弯曲的导板连接的悬臂式探针
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机译: 一种用于生成用于仿真和/或测试集成电路布图的测试图案的方法