用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构

摘要

本实用新型涉及用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，包括被动微波探测设备、二维转台、信号源、测试计算机、喇叭天线，二维转台的活动端与微波探测设备连接，在二维转台的内部分别设置用于驱动二维转台活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台作周向运动的周向动力机构；本实用新型通过设置二维转台使其可以大幅度提高被动微波探测设备的测试效率，其只需要通过一次扫描测试即可完成传统一维转台系统数十次的测试工作，由于测试组数少了，存储数据的工作量也相对减小，且在测试过程中无需移动天线位置，避免频繁移动天线导致测试前后数据不一致的问题，从而减小误差。