一种具有防尘功能的红外处理ADC电路性能比测装置

摘要

本实用新型公开了一种具有防尘功能的红外处理ADC电路性能比测装置，有效的解决了现有的红外处理ADC电路性能比测装置长时间不用时易沾染灰尘导致装置内部积灰的问题，其包括测试仪本体，所述测试仪本体顶端安装有防尘组件，测试仪本体底端安装有防水台，所述防尘组件包括支撑杆、工作室、旋转台、转柄、支撑座，本实用新型结构简单，使用方便，优化了现有红外处理ADC电路性能比测装置，增加了防尘组件，使得装置在不使用时能够将防尘装置放下对装置起到防尘作用，避免装置内部积灰导致内部部件损坏的问题发生，防尘组件使用方便，防尘效果更佳，增加了防水台，避免装置底端受潮影响内部构件。