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一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置

摘要

本实用新型公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置,所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方,所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方,所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合,两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置,且零刻度线靠近尺身中心线一侧,所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本实用新型具有操作简便,能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点,可同时测得缺口对称面与试样端面的距离,减少了常规测量过程中的无关变量,省时、省力。

著录项

  • 公开/公告号CN210221750U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-03-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN201920689974.3

  • 申请日2019-05-15

  • 分类号

  • 代理机构沈阳晨创科技专利代理有限责任公司;

  • 代理人张晨

  • 地址 110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2022-08-22 13:01:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-31

    授权

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