法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-03-03
授权
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机译: 缺陷检查装置,用于检查基体表面的不均匀性和在基体表面上的划痕,缺陷检查方法和用于检查接触孔的孔型的孔型检查方法
机译: 用于在患者检查期间维持诊断的几何对准扫描的磁共振成像(MRI)系统,用于在患者检查期间维持诊断的几何对准扫描的磁共振成像(MRI)方法病人以及用于维持几何对准扫描以诊断病人的磁共振成像(MRI)系统
机译: 用于检查周期性变化的对象的磁共振方法使用两个磁共振序列来提供用于对象重建和对象检查的磁共振数据