首页> 中国专利> 大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统

大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统

摘要

本实用新型提供一种大型射电望远镜的副反射面位姿测量系统,包括主反射面和副反射面,主反射面的中心处设有馈源仓,副反射面的边沿处安装有第一激光器,馈源仓的顶端为平面,平面上安装有馈源喇叭、黑色接收板、和长距离激光测距设备,馈源喇叭的侧面安装有对准所述黑色接收板的相机,相机测量第一激光器落在黑色接收板上的光斑的二维位置,长距离激光测距设备测量其到副反射面之间的距离。本实用新型的副反射面位姿测量系统采用PSD代替功率检测,可以在大型射电望远镜建设初期链路系统不完善的情况下获取副反射面的三维位移数据,构建副反射面的三维的重力模型,并对温度、风载和瞬时启停这类不稳定的因素对副反射面位姿的影响进行定量定性分析。

著录项

  • 公开/公告号CN210036681U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-02-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海天文台;

    申请/专利号CN201920862589.4

  • 申请日2019-06-10

  • 分类号

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 200030 上海市徐汇区南丹路80号

  • 入库时间 2022-08-22 12:28:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-07

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号