首页> 中国专利> 一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置

一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置

摘要

本实用新型公开了一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置,涉及超声波测厚仪耦合剂添加装置领域,超声波测厚仪是工业、工程上经常使用的检测金属厚度的设备之一,其原理时利用超声波在金属表面和底面回波的时间差来检测金属的厚度。由于金属表面并非平整和光滑,在检测时通常需要涂抹耦合剂来认为的平整金属表面及阻隔空气,以达到较为理想的测量环境。本实用新型提供了一种用于超声波测厚仪的耦合剂添加装置,和超声波测厚仪结合使用,测量时直接使用本实用新型涂抹耦合剂,解决了当所测金属有较大的倾斜角度时,耦合剂在测量前会流动,导致分布不均匀的问题,同时,也解决了通常需要先涂抹耦合剂再测量,大大耽误测量的效率的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN209945289U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2020-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 王国威;

    申请/专利号CN201920405213.0

  • 发明设计人 王国威;王辉熙;

    申请日2019-03-28

  • 分类号

  • 代理机构成都弘毅天承知识产权代理有限公司;

  • 代理人汤春微

  • 地址 733000 甘肃省武威市凉州区科技巷4号5室

  • 入库时间 2022-08-22 12:12:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-14

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号