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一种高隔氧的半导体性能测试设备

摘要

一种高隔氧的半导体性能测试设备,它涉及测试设备技术领域。一种高隔氧的半导体性能测试设备它包含箱体、电路板、半导体放置槽、温度传感器、磁学系统、温控系统、控制箱、万用表、显示屏、操控按钮、连接线、半导体器件、测试电路、电源,箱体内部设置电路板,电路板上设有半导体放置槽,半导体放置槽内部固定连接温度传感器,温控系统设置在磁学系统右侧,箱体和控制箱通过连接线连接,控制箱中设有万用表显示屏右侧设有操控按钮,半导体器件和测试电路电性连接,测试电路和电源电性连接。采用上述技术方案后,本实用新型的有益效果为:它的结构设计合理,可以进行多种性能测试,使用方便,可以满足生产厂家对测试设备的要求,适合推广使用。

著录项

  • 公开/公告号CN209821348U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南通大学;

    申请/专利号CN201920436903.2

  • 发明设计人 彭菊;

    申请日2019-04-02

  • 分类号

  • 代理机构南京鼎傲知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭元聪

  • 地址 226019 江苏省南通市啬园路9号南通大学

  • 入库时间 2022-08-22 11:51:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    授权

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