一种用于半导体测试中的吸取装置

摘要

本实用新型公开一种用于半导体测试中的吸取装置；包括一吸取固定座；该所述的吸取固定座的中心位置处设置有一吸孔；该所述的吸孔的上端连接安装有吸管；该所述的吸管连接到真空设备上；而吸取固定座的下端面上则以吸孔为中心向外侧逐渐设置有若干层的密封框；所述密封框的下端均为开口设计，并且每一密封框均将其内侧相邻的密封框整体包括在内；且所述的密封框与吸取固定座的下端面设置为可拆卸安装。本装置中吸取装置的真空吸取范围是可调节的。