公开/公告号CN209512737U
专利类型实用新型
公开/公告日2019-10-18
原文格式PDF
申请/专利权人 中建八局第二建设有限公司;
申请/专利号CN201920406628.X
申请日2019-03-28
分类号
代理机构济南信达专利事务所有限公司;
代理人姜明
地址 250014 山东省济南市历下区文化东路16号中建大厦18层
入库时间 2022-08-22 10:58:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-10-18
授权
授权
机译: 通过以两种不同的分辨率测量反向散射电子的密度来测量局部晶格间距的方法,一种用于检测测量面积,另一种用于测量晶格间距
机译: 为此目的提供刻度尺或刻度尺托架或测量杆导向器的装置和方法,以及测量刻度尺,刻度尺托架或测量杆导向器或防护带,
机译: 为此目的提供刻度尺或刻度尺托架或测量杆引导件以及测量刻度尺,刻度尺托架或量尺引导件或保护带的装置和方法,