LVDT位移传感器性能测试系统

摘要

本实用新型提供了一种LVDT位移传感器性能测试系统，属于LVDT位移传感器性能测试系统技术领域，包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；CPLD分别与FPGA、所述DA/AD芯片连接，CPLD还连接有ROM存储器，DA/AD芯片还连接LVDT电路；ROM存储器存储有标定数据；LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，电源与所述LVDT电路电连接，电源与所述连接器电连接。本实用新型方波转化成正弦波，转化电路先通过高通滤波器将0‑3.3V方波中的直流部分滤除，然后通过有源低通滤波器留下相应频率的正弦波，经过由AD5453构成的可编程增益电路调节幅值，最终通过功率放大器提高了带载能力，检测精度高，满足检测需求；通过嵌入式FPGA实现了无需重复装卡LVDT位移传感器，省时省力，提高了检测效率。