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用于测量物体变形的装置

摘要

本实用新型提一种用于测量物体变形的装置,它包括:设置有用于测量距离的刻度的基臂;设置在所述基臂上并且能够发射可见光束的光源;设置在所述光源前侧的光调节器,所述光调节器能够调节所述光源发射的可见光束的大小和/或强度;以及安装在所述基臂上并且能够相对于所述基臂移动的移动臂,所述移动臂具有相对于所述基臂垂直地延伸以便能够与所述基臂上的刻度对齐的至少一个平坦面。根据本实用新型的用于测量物体变形的装置使得测量物体是否变形变得简单易行,与物体相关的设备也无需中断作业,确保与物体相关的设备具有较高的作业效率。

著录项

  • 公开/公告号CN209102014U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201821872754.6

  • 发明设计人 唐小波;李久坤;

    申请日2018-11-14

  • 分类号

  • 代理机构北京永新同创知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨胜军

  • 地址 611731 四川省成都市高新技术开发区西区科新路8-1号

  • 入库时间 2022-08-22 09:50:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-12

    授权

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