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一种同时用于单端口、双端口PCIE SSD信号的测试治具

摘要

本实用新型了解决现有的PCIE SSD信号品质量测治具存在的问题,提出一种可同时用于单端口、双端口PCIE SSD信号的测试治具装置,并设计时钟控制切换电路,一方面,在插入单端口SSD时,即使按钮选择错误,也不影响对信号的量测功能,如果是双端口SSD,则只需通过按钮开关,即可实现对两个端口分别的信号测试工作;另一方面节省一路时钟信号SMA接口,操作更简单高效,不需要在双端口切换时,频繁插拔SMA接口,延长设备使用寿命,使其可以兼容传统的单端口SSD,同时可以支持最新的双端口SSD,节省测试用物料,提高测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN209070033U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 贵州浪潮英信科技有限公司;

    申请/专利号CN201821674452.8

  • 发明设计人 上官宇剑;

    申请日2018-10-16

  • 分类号

  • 代理机构济南诚智商标专利事务所有限公司;

  • 代理人王汝银

  • 地址 561113 贵州省安顺市平坝县贵安新区电子信息产业园黔中路电子信息产业园内

  • 入库时间 2022-08-22 09:44:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-05

    授权

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