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用于天线辐射性能检测的辅助装置

摘要

本实用新型公开了一种用于天线辐射性能检测的辅助装置,包括:至少两个夹持机构,夹持机构包括安装件、第一夹块、以及与第一夹块配合形成用于夹持天线本体的夹持部的第二夹块,安装件可拆卸设置于抱杆上,第一夹块及第二夹块设置于安装件上;及测量机构,测量机构设置于相邻两个安装件之间,测量机构包括刻度件、与刻度件滑动连接的滑块、以及设置于滑块上的测量件,刻度件设有沿其长度方向设置的刻度线,刻度件的一端与其中一个安装件固定、另一端与另一个安装件固定,滑块能够沿刻度件的长度方向移动。借助该辅助装置能够精准地进行调节天线安装位置,使得天线的相位中心与近场的物理中心重叠在一起,提高了天线辐射指标的测试的准确度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-04

    专利权的转移 IPC(主分类):G01R29/10 登记生效日:20200109 变更前: 变更后: 变更前:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2019-06-11

    授权

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