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一种基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置

摘要

本实用新型属于测量仪器技术领域,特别是涉及一种新型基于螺旋测微计的PSD位移精密测量装置。包括PSD位移传感器、PSD电路结构、底座、固定块、螺旋测微头、电源、半导体激光器、升降调节架和滑块;所述电源设置在半导体激光器上部与半导体激光器电连接;半导体激光器下表面连接升降调节架的上端头;升降调节架底部固定在滑块上,侧面与螺旋测微头的调节头固定连接;调节精度更高,误差更小,还可直接读出PSD位移,使用更加方便。

著录项

  • 公开/公告号CN208567794U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安邮电大学;

    申请/专利号CN201820734404.7

  • 发明设计人 王翀;赵瑶;罗文峰;张进玉;王璐;

    申请日2018-05-17

  • 分类号

  • 代理机构北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人向志杰

  • 地址 710119 陕西省西安市长安南路563号

  • 入库时间 2022-08-22 08:21:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    授权

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