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测量薄膜、平面应变场测量装置和平面应变场测量系统

摘要

本实用新型提供了一种测量薄膜、平面应变场测量装置和平面应变场测量系统,其中,测量薄膜用于对待测物表面进行实时应变场测量,其包括:传感层,传感层包括层本体、多个应变测量传感器和温度补偿传感器,其中,多个应变测量传感器设置在层本体上,且其布局根据待测物表面确定,温度补偿传感器设置在层本体上,温度补偿传感器用于抵消温度变化对应变测量传感器测量待测物表面的实时应变场的测量结果的影响。本实用新型解决了现有技术中的无法对待测物表面进行二维平面实时应变场精准测量的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN208419943U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-01-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳光启尖端技术有限责任公司;

    申请/专利号CN201820530540.4

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2018-04-13

  • 分类号

  • 代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人韩建伟

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦四楼

  • 入库时间 2022-08-22 07:57:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-22

    授权

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