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一种可实现离轴反射镜高低点位置精确测量的系统

摘要

本实用新型属于光学检测领域,尤其涉及一种一种可实现离轴反射镜高低点位置精确测量的系统。本实用新型解决了离轴反射镜在加工过程中以及装调过程中难以精确标定高低点位置的问题。本实用新型可精确标定离轴抛物面反射镜高低点位置的系统,包括平台、激光干涉仪、平面反射镜、第一经纬仪、第二经纬仪和第三经纬仪;激光干涉仪、平面反射镜、第一经纬仪、第二经纬仪和第三经纬仪均设置在平台上;第一经纬仪和第三经纬仪位于平台的两侧,第一经纬仪的光轴和第三经纬仪的光轴均与大地水平,且二者处于同一直线上;平面反射镜、第二经纬仪和待测的离轴抛物面反射镜均位于平台的中部,且均位于第一经纬仪和第二经纬仪连线的一侧。

著录项

  • 公开/公告号CN208333382U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201821258156.X

  • 发明设计人 宋兴;张学敏;杨建峰;

    申请日2018-08-06

  • 分类号

  • 代理机构西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈广民

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

  • 入库时间 2022-08-22 07:42:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-04

    授权

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