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一种测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置

摘要

本实用新型公开了一种测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置,所述测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置包括三坐标测量工作台,顶端固定设有高度相同的第一等高块和第二等高块;三坐标测头,其用于测量被测量物;移动机构,其使上述三坐标测头移动;控制装置,其控制上述移动机构;薄壁异形管定位机构,包括,支撑梁体,用于穿过所述薄壁异形管的管腔,所述支撑梁体的两端分别放置在第一等高块和第二等高块的顶端以形成支撑定位;内支撑定位杆:底端通过固定座在支撑梁体上定位,所述内支撑定位杆的顶端设有用于支撑所述波峰内壁顶点的支撑部。本实用新型具有便于操作,提高测量精准度的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN207923004U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-09-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 核工业理化工程研究院;

    申请/专利号CN201820294619.1

  • 申请日2018-03-02

  • 分类号

  • 代理机构天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李薇

  • 地址 300180 天津市河东区津塘路168号

  • 入库时间 2022-08-22 06:31:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-28

    授权

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