公开/公告号CN207600978U
专利类型实用新型
公开/公告日2018-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量科学研究院;
申请/专利号CN201721717632.5
申请日2017-12-12
分类号
代理机构北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人李楠
地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号
入库时间 2022-08-22 05:38:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-07-10
授权
授权
机译: 用于估计半值层或在计算机断层扫描中使用的旋转X射线源的四分之一值层的装置
机译: 测定X射线束半值层的装置和方法
机译: 在纸张处理机中对齐纸张的方法,包括检测前边缘层的位置,并基于测量装置的感测值校正检测线上的前边缘层的偏差