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半值层测量装置

摘要

本实用新型实施例涉及一种半值层测量装置,包括:支撑部,顶部设有导轨,轨上具有滑块;调节部,包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体;座体的底面安装于滑块上,使得调节部沿导轨运动;伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面,调节手柄驱动伸缩杆压缩或拉伸,从而调节台体与座体之间距离;光阑组件,置于台体上,包括屏蔽体和光阑;其中,屏蔽体上有插接孔,光阑的外边缘尺寸和插接孔相匹配,光阑插入插接孔中;吸收片支架,置于台体上,通过吸收片支架固定吸收片,使得吸收片和光阑的中心相对准。本实用新型实施例提供的半值层测量装置,通过增置光阑组件,将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小,实现半值层的精确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN207600978U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN201721717632.5

  • 发明设计人 吴金杰;杜海燕;刘莹;赵瑞;

    申请日2017-12-12

  • 分类号

  • 代理机构北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人李楠

  • 地址 100029 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2022-08-22 05:38:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    授权

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