一种改进的晶硅电池密栅测试装置

摘要

一种改进的晶硅电池密栅测试装置，一种改进的晶硅电池密栅测试装置，包括电池片（3）、用于传送电池片的皮带（7）、上探针排、下探针排、上探针座（1）、下探针座（5）、温度测试仪（8），上探针排由两个相同的并列排放的上探针装置（2）构成，下探针排由中间的中下探针装置（4）和左右两侧的侧下探针装置（6）组成，上探针装置（2）上有12列探针，每列探针有10根探针，中下探针装置（4）有8列探针，每列探针有10根，侧下探针装置（6）有两个，每个侧下探针装置（6）有两列探针，温度测试仪（8）安装在中下探针装置（4）的探针间缝隙中。