首页> 中国专利> 实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架

实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架

摘要

本实用新型涉及一种实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架,至少包括:支架主体、磁吸遮光板、可控底板,其中,所述支架主体包括相机支撑顶棚以及连接在所述相机支撑顶棚上的架体支撑三级伸缩支撑杆;所述支撑顶棚上表面设有相机放置面,所述架体支撑三级伸缩支撑杆的磁力面通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽支撑杆位上,所述磁吸遮光板的两个磁力面分别通过电磁连接在支架磁吸卡槽上和底板磁吸卡槽遮光板位上;在所述可控底板上,所述磁吸遮光板围起来的区域内形成试样放置范围区,所述试样放置范围区内设有底板磁吸卡槽试样卡托位。

著录项

  • 公开/公告号CN207198526U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大唐东北电力试验研究所有限公司;

    申请/专利号CN201720472940.X

  • 申请日2017-05-02

  • 分类号

  • 代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑海

  • 地址 130012 吉林省长春市高新区蔚山路3195号

  • 入库时间 2022-08-22 04:30:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-06

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号