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一种测量光电二极管响应的线性度的装置

摘要

本实用新型涉及光学测量领域,一种测量光电二极管响应的线性度的装置,包括暗箱、光源I、电源I、计算机、电流表、电源II、光源II、待测光电二极管,所述电源I、计算机、电流表、电源II均位于所述暗箱外,所述光源I、光源II、电源I、电源II、待测光电二极管和电流表均与计算机连接,所述暗箱为边长500毫米的正方体腔体,所述暗箱内侧表面均匀涂有漫反射材料且具有一开口,所述待测光电二极管安装于所述暗箱的开口处且连接所述电流表,所述光源I、光源II位于所述暗箱内侧表面处、且分别由所述电源I和电源II供电,所述光源I单独工作时,所述待测光电二极管产生光电流I

著录项

  • 公开/公告号CN206906531U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 金华职业技术学院;

    申请/专利号CN201720694343.1

  • 发明设计人 章尚贞;张向平;赵永建;

    申请日2017-06-08

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 321017 浙江省金华市婺州街1188号

  • 入库时间 2022-08-22 03:43:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-19

    授权

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