一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置

摘要

本实用新型公开一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，包括2×N管脚的双列直插封装插座，用于安插待测试CMOS集成电路；与所述2N个管脚中每个管脚一一对应电连接的测试单元，其中每个测试单元包括M选一拨码开关，根据所电连接管脚的功能，将所述电连接管脚以M种方式之一选通，其中M种方式至少包括：通过电容器电连接到地；直接电连接到地；以及直接电连接到电源，其中N为1列上的管脚数并且N≥2，M≥3。通过本装置，不仅节省了测试成本，同时也提高了试验的可靠性和稳定性。