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形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置

摘要

一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。高聚物的电学性能往往非常灵敏地反映了材料内部结构的变化,因而是研究形状记忆高分子材料的一种有力手段。一种形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置,其组成包括:度量支撑底板(1)和形变度量标尺(2),形变度量标尺由度量支撑底板支撑,度量支撑底板的上表面平行设置有凹槽,形变度量标尺的下表面的两侧平行设置有与凹槽相匹配的凸起结构,形变度量标尺的凸起结构能够在度量支撑底板的凹槽内上下移动,形变度量标尺中心线与度量支撑底板的中心线重合。本实用新型应用于形状记忆高分子材料形状回复率和形状固定率的测试装置。

著录项

  • 公开/公告号CN206740065U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨理工大学;

    申请/专利号CN201720556253.6

  • 发明设计人 李子帙;江志聪;

    申请日2017-05-18

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨东方专利事务所;

  • 代理人陈晓光

  • 地址 150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号哈尔滨理工大学

  • 入库时间 2022-08-22 03:21:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B5/30 授权公告日:20171212 终止日期:20180518 申请日:20170518

    专利权的终止

  • 2017-12-12

    授权

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