首页> 中国专利> 植生基质层—岩层接触面力学参数测定系统

植生基质层—岩层接触面力学参数测定系统

摘要

本实用新型涉及一种植生基质层—岩层接触面力学参数测定系统。包括试块和测量装置两部分。试块由岩石试块与植生基质层构成,岩石试块选用实际现场原位石块,在岩块上附加植生基质层,种植植物后自然养护。生长一季度后将基质层表层以上的茎叶全部剪去,留下下部为岩石、上部为植生基质的整体作为试块。测量装置:上下剪切盒用于套装待测试块,上剪切盒右侧与固定板相连固定不动,上侧与垂直加压手轮相连。下剪切盒左侧与液压加压装置相连,并设置应力应变传感器与加压装置相连,下剪切盒与底板间设置轨道连接以减小摩擦。本实用新型装置简易单实用性高,数据通过传感器准确测定,可有效测定岩层—植生基质测接触面的力学参数。

著录项

  • 公开/公告号CN206601212U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华北理工大学;

    申请/专利号CN201720360975.4

  • 申请日2017-04-07

  • 分类号

  • 代理机构唐山永和专利商标事务所;

  • 代理人张云和

  • 地址 063210 河北省唐山市曹妃甸区唐山湾生态城渤海大道21号

  • 入库时间 2022-08-22 03:08:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01L5/00 授权公告日:20171031 终止日期:20180407 申请日:20170407

    专利权的终止

  • 2017-10-31

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号