一种两步相移干涉相位显微一次成像系统及方法

摘要

本发明公开了一种两步相移干涉相位显微一次成像系统及方法，基于典型的马赫-曾德尔干涉光路，采用侧向位移分光镜分别对样品光与参考光进行分光，利用波片作为相移器，通过单次曝光，可同时采集到两幅干涉图，经相应的相位恢复运算可快速实现相位成像，进而解构相位体的空间形态结构。本发明适用于所有的干涉相位显微成像系统，包括传统的同轴干涉、离轴干涉以及轻微离轴干涉。本发明在相位显微方面具有广泛的实用价值与应用前景，特别是在生物细胞形态识别应用领域。