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一种无透镜宽平行光束测量系统

摘要

本实用新型提供一种无透镜宽平行光束测量系统,包括点光源、柱型棱镜、发射用平面镜、发射抛物凹面镜、接收抛物凹面镜、接收用平面镜、滤光片以及CCD阵列检测器,点光源发射的光通过柱型棱镜转换为扇形光带,扇形光带通过发射用平面镜反射至发射抛物凹面镜表面,再由发射抛物凹面镜出射平行光带至待测样品表面,待测样品未遮挡的平行光带入射至接收抛物凹面镜表面,再由接收抛物凹面镜出射扇形光带至接收用平面镜,接收用平面镜将扇形光带出射至用于检测因待测样品遮挡平行光带产生暗角角度大小的CCD阵列检测器上。本实用新型的有益效果是:因该设计无透镜,质量小,所以提高了检测过程中的转动或摆动速率,不会因透镜质量过大而影响测量结果准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN205482793U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2016-08-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津市兆瑞测控技术有限公司;

    申请/专利号CN201620067123.1

  • 发明设计人 谭成章;

    申请日2016-01-25

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构11315 北京国昊天诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘昕

  • 地址 300192 天津市南开区宜宾道40号海科大厦

  • 入库时间 2022-08-22 01:36:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-22

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01B11/00 授权公告日:20160817 放弃生效日:20190322 申请日:20160125

    避免重复授权放弃专利权

  • 2016-08-17

    授权

    授权

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