用于延长记忆体寿命的电路系统

摘要

本实用新型公开了一种用于延长记忆体寿命的电路系统，其包含EEPROM存储器，RAM存储器和电量检测器，EEPROM存储器，RAM存储器和电量检测器之间形成通路；所述电量检测器为采用A/D转换检测方法的电量检测器；还包含MCU；所述MCU控制连接所述EEPROM存储器，RAM存储器和电量检测器；还包含为电路系统提供电源的电源电路；所述电量检测器用于检测所述电源电路的电压；所述电源电路为阻容降压结构，电源电路将AC220V的电压降压整流为DC5V。