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用于以光谱传感器获得的X射线光谱的迭加现象的校准方法

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摘要

本发明揭露一种用以校准X射线的测量光谱(Sp

1. 用于以光谱传感器获得的X射线光谱的迭加现象的校准方法 [P] . 中国专利： CN102713678B . 2016.05.25
2. 包括多个传感器的光谱学装置的校准方法和从至少两个经校准光谱学装置获得的光谱信息的传递方法 [P] . 中国专利： CN113227732A . 2021-08-06
3. Method of correction of the stack phenomenon applied to the x radiation spectra acquired by means of a sensor spectrometric [P] . 法国专利： FR2953298B1 . 2014-10-31

机译：校正应用于通过传感器光谱仪获得的x射线光谱的堆叠现象的方法
4. METHOD OF CORRECTING THE STACK PHENOMENON APPLIED TO ACQUIRED X-RAY SPECTRA USING A SPECTROMETRIC SENSOR [P] . 法国专利： FR2953298A1 . 2011-06-03

机译：分光传感器校正适用于获得的X射线光谱的堆积现象的方法
5. Method for correcting the stacking phenomenon applied to X-ray spectrums acquired using a spectrometric sensor [P] . 美国专利： US9689994B2 . 2017-06-27

机译：校正应用于使用光谱传感器获取的X射线光谱的堆叠现象的方法