首页> 中国专利> 基于透射型补偿数字全息术的光学元件表面疵病检测装置

基于透射型补偿数字全息术的光学元件表面疵病检测装置

摘要

本实用新型涉及光学检测领域,具体涉及基于透射型补偿数字全息术的光学元件表面疵病检测装置,它利用数字全息技术测量由表面疵病引起的元件反射波前的相位畸变,进而通过相位畸变与光程差的关系来获得表面疵病的形貌结构;本实用新型包括激光器、光学系统、CCD相机及计算机,其有益效果为:实现对于光学元件表面疵病三维形貌的实时快速全场定量检测,使用便携,易于操作。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-17

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/88 授权公告日:20151202 终止日期:20160826 申请日:20150826

    专利权的终止

  • 2015-12-02

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号