首页> 中国专利> 用于计算物料灰分的参数检测装置及物料灰分的测量设备

用于计算物料灰分的参数检测装置及物料灰分的测量设备

摘要

本实用新型提出一种用于计算物料灰分的参数检测装置,包括:用于承载物料的传送带;超声测距传感器,超声测距传感器,所述超声测距传感器向物料发射超声波,并接收所述超声波在接触物料后反射的超声波;探测器,探测器位于物料的下方,以检测物料的放射性;分别与超声测距传感器和探测器相连的存储器,存储用于计算物料灰分的参数,参数包括超声测距传感器测量的物料厚度、物料的放射性和传送带的传送速度。根据本实用新型的用于计算物料灰分的参数检测装置具有参数检测准确、可靠的优点,另外,该装置具有结构简单、成本低的优点。本实用新型还提出了一种物料灰分的测量设备。

著录项

  • 公开/公告号CN204346951U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-05-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京辰安测控科技有限公司;

    申请/专利号CN201420560341.X

  • 发明设计人 孙宇;李建平;衣宏昌;

    申请日2014-09-26

  • 分类号

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张大威

  • 地址 100192 北京市海淀区清河龙岗路27号院楼房一层

  • 入库时间 2022-08-22 00:36:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-20

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号