一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具

摘要

本实用新型公开了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口。使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。