实现COMMAND模式的MIPI模组测试系统

摘要

本实用新型公开了一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试系统，它包括PG图像发生器、MCU和FPGA，PG图像发生器分别与MCU和FPGA连接，MCU与FPGA通过EBI接口连接，FPGA通过桥接芯片与MIPI模组连接。本实用新型能够实现COMMAND模式MIPI模组的点屏测试；本系统通过FPGA生成图像数据，MCU通过FPGA转发MIPI模组的寄存器配置参数，可以实现寄存器配置参数和图像数据在同一个通道进行发送，提高传输效率。