首页> 中国专利> 一种测量同位素热源表面温度的测量装置

一种测量同位素热源表面温度的测量装置

摘要

本实用新型涉及一种温度测量装置。为解决现有同位素热源表面温度测量方法测量结果不准确,无法获得完整的温度场分布情况等问题,本实用新型提供了一种同位素热源表面温度测量装置,包括红外测温台、计算机控制和数据采集系统以及计算机数据处理系统。同时提供了一种采用前述测量装置的温度测量方法,步骤如下:一、通过远程控制装置放置同位素热源;二、通过压头固定同位素热源;三、通过计算机控制和数据采集系统采集各参数;四、通过计算机数据处理系统进行数据处理。本实用新型的同位素热源表面温度测量装置能够获得完整的同位素热源表面温度场分布情况,测量结果准确客观,实现了远距离测量,满足了安全性要求。

著录项

  • 公开/公告号CN204043793U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国原子能科学研究院;

    申请/专利号CN201420244872.8

  • 申请日2014-05-14

  • 分类号G01J5/00(20060101);G01J5/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 102413 北京市房山区275信箱65分箱

  • 入库时间 2022-08-22 00:24:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-24

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号