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一种双波长调制痕量物质光电检测装置

摘要

一种双波长调制痕量物质光电检测装置,包括控制处理单元、光源和光电探测器,所述的光源包括波长不同的第一波长光源和第二波长光源,所述的第一波长光源和第二波长光源与所述的控制处理单元之间分别连接有第一调制模块和第二调制模块;所述的第一波长光源和第二波长光源的出射光束经合束镜合成为方向相同的合成光束,合成光束入射到被测区域并激发得到荧光,在所述荧光出射方向设置有用于探测所述荧光的光电探测器,所述光电探测器通过调制解调器连接到所述的控制处理单元。本实用新型具有灵敏度高、结构简单、可靠性高的特点,同时可实现对两种物质、多种物质形态的在线原位检测。

著录项

  • 公开/公告号CN203672786U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高秀敏;

    申请/专利号CN201420013536.2

  • 发明设计人 高秀敏;朱厚飞;

    申请日2014-01-07

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200433 上海市杨浦区国顺路80弄5号202室

  • 入库时间 2022-08-22 00:09:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/64 授权公告日:20140625 终止日期:20160107 申请日:20140107

    专利权的终止

  • 2016-04-27

    文件的公告送达 IPC(主分类):G01N21/64 收件人:高秀敏 文件名称:缴费通知书 申请日:20140107

    文件的公告送达

  • 2014-06-25

    授权

    授权

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